10月27日下午，学院教师彭平副教授在理工二教室为化学化工系同学作了以“原子力显微镜探针简介”为题的学术讲座。

讲座中彭平老师结合自身科研工作实际，将相关知识前沿和原理进行介绍。原子力显微镜（AFM)，是一种具有原子分辨率的表面形貌、力学性能分析的重要仪器。首台原子力显微镜在1985年研发成功，其模式可分为接触模式和轻敲模式等多种模式。AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国、瑞士、保加利亚、美国等。由于的探针寿命短，分辨率不高也不稳定且一致性差，各国都在开发新型探针。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力）、静电力显微镜EFM（静电力）、磁力显微镜MFM（静磁力）、侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等，因此有对应不同种类显微镜的相应探针。

讲座结束之后，彭平老师与场下同学进行了互动交流，并就仪器分析的最新进展和原子力显微镜在材料测试领域的最新应用等科学问题进行了探讨，气氛热烈而融洽。